FASTDEF: Fast defocus and astigmatism estimation for high-throughput transmission electron microscopy
- Vargas, J.
- Otón, J.
- Marabini, R.
- Jonic, S.
- de la Rosa-Trevín, J.M.
- Carazo, J.M.
- Sorzano, C.O.S.
ISSN: 1047-8477, 1095-8657
Año de publicación: 2013
Volumen: 181
Número: 2
Páginas: 136-148
Tipo: Artículo