Detection of surface defects on thin metallic wires by geometrical conical diffraction
- Sanchez-Brea, Luis Miguel
- Siegmann, Philip
- Bernabeu, Eusebio
- Rebollo, M.A.
- Perez-Quintian, F.
- Raffo, C.A.
Actas:
Proceedings of the Annual Convention of the Wire Association International
ISSN: 0731-4191
Año de publicación: 1999
Páginas: 527-530
Tipo: Artículo