Estudio retrospectivo de supervivencia de 1 a 10 años sobre 535 implantes cortos 4x6mm en maxilar y mandibula

  1. SALGADO VELAZQUEZ, ALBERTO
Dirigida por:
  1. Eduardo Fernández Jover Director/a

Universidad de defensa: Universidad Miguel Hernández de Elche

Fecha de defensa: 14 de mayo de 2021

Tribunal:
  1. José María Sabater Navarro Presidente/a
  2. Cristina Soto-Sánchez Secretario/a
  3. Elena Figuero Ruiz Vocal
  4. Rui Pedro Barbosa de Figueredo Vocal
  5. Juan Luis Román Rodríguez Vocal

Tipo: Tesis

Resumen

1.- RESUMEN Objeto del estudio La finalidad de este estudio era analizar la tasa de supervivencia y causas de fracaso en implantes cortos (6mm) y determinar la prevalencia y distribución de peiimplantitis (PI) en la muestra evaluada. Material y método Fueron evaluados un total de 535 implantes dentales en 261 pacientes con un seguimiento de 1 a 9 años. Los implantes fueron colocados en hueso prístino o regenerado. Los niveles de hueso periimplantario fueron medidos de manera anual. El método de Kaplan-Meier fue aplicado para analizar la asociación entre la supervivencia del implante y el periodo de seguimiento. Resultados La tasa total de supervivencia fue 97,6%. Respecto a los factores que influyen en la supervivencia, el 53% de los fallos estaban relacionados con el hábito tabáquico, en mayor proporción en maxilar y 10 de cada 13 (76%) de los implantes que fallaron fueron diagnosticados de periimplantitis (PI). La colocación del implante de manera inmediata también afectó negativamente a la tasa de supervivencia ya que 3 de cada 27 implantes inmediatos fallaron. Cuarenta y un implantes fueron diagnosticados con PI, en 7,7% de los tratados, 11 de 167 implantes con más de 5 años de seguimiento, presentaron PI, indicando una prevalencia del 6,6%. Conclusión Los implantes cortos (6mm) colocados en hueso prístino o injertado tienen una tasa de supervivencia a medio y corto plazo igual que los implantes de longitud estándar, a pesar de que la tasa de supervivencia fue más baja en el maxilar y en fumadores, así como en implantes inmediatos. La PI fue la causa principal de fracaso implantario estando presente en el 73% de los fallos. Palabras clave: implante corto, supervivencia, periimplantitis.