Aplicación de la microscopia óptica y electrónica de barrido al estudio de los procesos de alteración diagenética de rocas volcanoclásticas
- Soriano Carrillo, Jesús
- Marfil Pérez, Rafaela
- Peña Blasco, José Andrés de la
Éditorial: Ministerio de Fomento
ISBN: 84-7433-165-X
Année de publication: 1981
Type: Livre