Aplicación de la microscopia óptica y electrónica de barrido al estudio de los procesos de alteración diagenética de rocas volcanoclásticas

  1. Soriano Carrillo, Jesús
  2. Marfil Pérez, Rafaela
  3. Peña Blasco, José Andrés de la

Éditorial: Ministerio de Fomento

ISBN: 84-7433-165-X

Année de publication: 1981

Type: Livre