Generador de seqüències de test per circuits integrats NMOS
- Ferrer, Carles
- Deschamps, Jean Pierre
- Joan Oliver
- Carrabina, J.
- Valderrama Vallès, Elena
ISSN: 0210-8054
Año de publicación: 1987
Volumen: 11
Número: 2
Páginas: 81-91
Tipo: Artículo
Otras publicaciones en: Questiió: Quaderns d'Estadística, Sistemes, Informatica i Investigació Operativa
Resumen
El generador de secuencias de ensayo que se presenta en este artículo utiliza una descripción del circuito a nivel de transistor que representa las redes de transistores de enriquecimiento de las funciones lógicas NMOS mediante grafos no orientados. Para la generación de vectores de ensayo se emplea el algoritmo D, habiendo desarrollado un método enumerativo de búsqueda de caminos en la parte superior del grafo, a partir del camino mínimo que pasa por el flanco que representa el transistor afectado por el fallo.