Raman scattering and cathodoluminescence characterization of near lattice-matched InxAl1-xN epilayers

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Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242,  1361-6641

Año de publicación: 2008

Volumen: 23

Número: 10

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/23/10/105002 GOOGLE SCHOLAR
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