Analytical electron microscopic studies and positron lifetime measurements in Al-doped MgO crystals

  1. Pedrosa, M.A.
  2. Pareja, R.
  3. González, R.
  4. Abraham, M.M.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Ano de publicación: 1987

Volume: 62

Número: 2

Páxinas: 429-433

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/1.339816 GOOGLE SCHOLAR

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