Near-Field Fano-Imaging of TE and TM Modes in Silicon Microrings
- La China, F.
- Intonti, F.
- Caselli, N.
- Lotti, F.
- Sarti, F.
- Vinattieri, A.
- Noury, A.
- Le Roux, X.
- Zhang, W.
- Cassan, E.
- Ramos, C.A.
- Valdeiglesias, E.D.
- Izard, N.
- Vivien, L.
- Gurioli, M.
ISSN: 2330-4022
Datum der Publikation: 2015
Ausgabe: 2
Nummer: 12
Seiten: 1712-1718
Art: Artikel