PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY OF THE Si/Eu INTERFACE USING SYNCHROTRON RADIATION.
- Nogami, J.
- Carbone, C.
- Yeh, J.J.
- Lindau, I.
- Nannarone, S.
Konferenzberichte:
Proceedings of the 17th International Conference on the Physics of Semiconductors.
ISBN: 9780387961088
Datum der Publikation: 1985
Seiten: 201-204
Art: Konferenz-Beitrag