Topological sensitivity for solving inverse multiple scattering problems in three-dimensional electromagnetism. Part II: Iterative method

  1. Le Louër, F.
  2. Rapún, M.-L.
Aldizkaria:
SIAM Journal on Imaging Sciences

ISSN: 1936-4954

Argitalpen urtea: 2018

Alea: 11

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 734-769

Mota: Artikulua

DOI: 10.1137/17M1148359 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus