Characterization of cobalt nanowires by means of force microscopy

  1. Garcia, J.M.
  2. Asenjo, A.
  3. Vazquez, M.
  4. Aranda, P.
  5. Ruiz-Hitzky, E.
Revista:
IEEE Transactions on Magnetics

ISSN: 0018-9464

Año de publicación: 2000

Volumen: 36

Número: 5 I

Páginas: 2981-2983

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/20.908647 GOOGLE SCHOLAR
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