In situ observation of electromigration in micrometre-sized gold stripes by scanning force microscopy

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Revista:
Surface and Interface Analysis

ISSN: 0142-2421

Año de publicación: 2000

Volumen: 30

Número: 1

Páginas: 278-282

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/1096-9918(200008)30:1<278::AID-SIA784>3.0.CO;2-Y GOOGLE SCHOLAR
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