Fault tolerant encoders for Single Error Correction and Double Adjacent Error Correction codes

  1. Liu, S.
  2. Reviriego, P.
  3. Maestro, J.A.
  4. Xiao, L.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2018

Volumen: 81

Páginas: 167-173

Tipo: Carta

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.12.017 GOOGLE SCHOLAR
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