Comments on “Extend orthogonal Latin square codes for 32-bit data protection in memory applications” Microelectron. Reliab. 63, 278–283 (2016)
- Liu, S.
- Reviriego, P.
- Sánchez-Macián, A.
- Maestro, J.A.
- Xiao, L.
Revista:
Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714
Año de publicación: 2017
Volumen: 69
Páginas: 126-129
Tipo: Carta