Reducing the Cost of Triple Adjacent Error Correction in Double Error Correction Orthogonal Latin Square Codes

  1. Liu, S.
  2. Reviriego, P.
  3. Xiao, L.
  4. Maestro, J.A.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1558-2574,  1530-4388

Datum der Publikation: 2016

Ausgabe: 16

Nummer: 2

Seiten: 269-271

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TDMR.2016.2547187 GOOGLE SCHOLAR
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