A method to design SEC-DED-DAEC codes with optimized decoding

  1. Reviriego, P.
  2. Martínez, J.
  3. Pontarelli, S.
  4. Maestro, J.A.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1558-2574,  1530-4388

Año de publicación: 2014

Volumen: 14

Número: 3

Páginas: 884-889

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TDMR.2014.2332364 GOOGLE SCHOLAR
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