A fault tolerant implementation of the Goertzel algorithm

  1. Gao, Z.
  2. Reviriego, P.
  3. Li, X.
  4. Maestro, J.A.
  5. Zhao, M.
  6. Wang, J.
Aldizkaria:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Argitalpen urtea: 2014

Alea: 54

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 335-337

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2013.08.012 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus