Time-Dependent Electromigration Modeling for Workload-Aware Design-Space Exploration in STT-MRAM

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Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 1937-4151,  0278-0070

Año de publicación: 2022

Volumen: 41

Número: 12

Páginas: 5327-5332

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TCAD.2022.3158249 GOOGLE SCHOLAR
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