Extended-range temporal electronic speckle pattern interferometry

  1. Servin, M.
  2. Davila, A.
  3. Quiroga, J.A.
Revista:
Applied Optics

ISSN: 2155-3165 1559-128X

Año de publicación: 2002

Volumen: 41

Número: 22

Páginas: 4541-4547

Tipo: Artículo

DOI: 10.1364/AO.41.004541 GOOGLE SCHOLAR