Defect landscape and electrical properties in solution-derived LaNi O3 and NdNi O3 epitaxial thin films
- Mundet, B.
- Jareño, J.
- Gazquez, J.
- Varela, M.
- Obradors, X.
- Puig, T.
Zeitschrift:
Physical Review Materials
ISSN: 2475-9953
Datum der Publikation: 2018
Ausgabe: 2
Nummer: 6
Art: Artikel