Simulation Of Electron Energy Loss Near Edge Structure At Atomic Resolution For Aberration Corrected STEM

  1. Oxley, M.P.
  2. Prange, M.P.
  3. Varela, M.
  4. Pennycook, S.J.
  5. Pantelides, S.T.
Aldizkaria:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Argitalpen urtea: 2012

Alea: 18

Zenbakia: S2

Orrialdeak: 1490-1491

Mota: Artikulua

DOI: 10.1017/S1431927612009300 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus