On the Choice of the Optimal Tuning Parameter in Robust One-Shot Device Testing Analysis
ISSN: 2198-4190, 2198-4182
Argitalpen urtea: 2023
Alea: 445
Orrialdeak: 169-180
Mota: Liburuko kapitulua
ISSN: 2198-4190, 2198-4182
Argitalpen urtea: 2023
Alea: 445
Orrialdeak: 169-180
Mota: Liburuko kapitulua