Conductance transients study of slow traps in Al/SiNx : H/Si and Al/SiNx : H/InP metal-insulator-semiconductor structures

  1. Duenas, S
  2. Pelaez, R
  3. Castan, E
  4. Barbolla, J
  5. Martil, I
  6. Gonzalez-Diaz, G
Colección de libros:
ELECTRICALLY BASED MICROSTRUCTURAL CHARACTERIZATION II
  1. Gerhardt, RA (coord.)
  2. Alim, MA (coord.)
  3. Taylor, SR (coord.)

ISSN: 0272-9172

ISBN: 1-55899-405-X

Año de publicación: 1998

Volumen: 500

Páginas: 87-92

Congreso: Symposium on Electrically Based Microstructural Characterization II, at the 1997 MRS Fall Meeting

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS