Combinación de técnicas de microscopía en estudio de materiales

  1. Eloy Anguiano Rey
Supervised by:
  1. Miguel Aguilar Gutiérrez Director

Defence university: Universidad Autónoma de Madrid

Year of defence: 1994

Committee:
  1. Francisco Jaque Rechea Chair
  2. Gloria Platero Coello Committee member
  3. Sebastián Vieira Díaz Committee member
  4. Francisco Javier Piqueras de Noriega Committee member

Type: Thesis

Teseo: 50174 DIALNET

Abstract

SE HA REALIZADO UN DESARROLLO DE DOS SISTEMAS DE ADQUISICION, TANTO PARA MICROSCOPIA ELECTRONICA COMO PARA MICROSCOPIA DE EFECTO TUNEL EN UN SISTEMA RISC EN UNIX. ASI MISMO, SE HA DESARROLLADO UN SISTEMA DE TRATAMIENTO Y ANALISIS DE DATOS BAJO ESTE MISMO SISTEMA. SE HAN REALIZADO UNA SERIE DE TRABAJOS TEORICOS ENCAMINADOS A DETERMINAR LA SITUACION DE ESTABILIDAD DE MICROSCOPIOS DE EFECTO TUNEL Y TECNICAS RELACIONADAS. POR OTRO LADO, SE HAN OBTENIDOS METODOS DE ANALISIS DE LA DIMENSION FRACTAL DE SUPERFICIES, UTILES PARA DETERMINAR LA DIMENSION FRACTAL DE SUPERFICIES REALES OBTENIDAS POR MICROSCOPIA DE EFECTO TUNEL Y TECNICAS RELACIONADAS. COMO APLICACION DEL ESTUDIO DE LA DIMENSION FRACTAL DE SUPERFICIES SE HAN ESTUDIADO LAMINAS DELGADAS DE COP AMORFO, RELACIONANDO EL COMPORTAMIENTO DE LA DIMENSION FRACTAL DE LA SUPERFICIE CON EL COMPORTAMIENTO DE LOS DOMINIOS MAGNETICOS EN SUPERFICIE. TAMBIEN SE HA OBTENIDO POR PRIMERA VEZ, RESOLUCION ATOMICA EN ESTE TIPO DE AMORFOS, ASI COMO EL COMPORTAMIENTO EN EL CRECIMIENTO DE LAMINAS DE CDTE.