Caracterización y desarrollo de estructuras nanométricas de silicio para aplicaciones optoelectrónicas
- Martín Palma, Raúl José
Universidad de defensa: Universidad Autónoma de Madrid
Fecha de defensa: 22 de marzo de 2000
- Juan Piqueras Presidente/a
- Fernando Agulló de Rueda Secretario/a
- Germán González Díaz Vocal
- José María González Calbet Vocal
- María Luisa Marcos Laguna Vocal
Tipo: Tesis
Resumen
Se han desarrollado dispositivos basados en nanoestructuras de silicio para su utilización como fotodiodos y células solares. Para su uso tanto en éstos como en otros dispositivos optoelectrónicos, han sido estudiadas las propiedades electrónicas de transporte a través de dichas nanoestructuras, estableciéndose una relación entre los parámetros electrónicos y morfología, estudiada mediante diversas microscopías. Han sido además analizadas las propiedades ópticas de diferentes capas nanomcetricas de silicio. Finalmetne, se han analizado diversos mecanismos de degradación de los dispositivos desarrollados.