Caracterización y desarrollo de estructuras nanométricas de silicio para aplicaciones optoelectrónicas

  1. Martín Palma, Raúl José

Universidad de defensa: Universidad Autónoma de Madrid

Fecha de defensa: 22 de marzo de 2000

Tribunal:
  1. Juan Piqueras Presidente/a
  2. Fernando Agulló de Rueda Secretario/a
  3. Germán González Díaz Vocal
  4. José María González Calbet Vocal
  5. María Luisa Marcos Laguna Vocal

Tipo: Tesis

Teseo: 78619 DIALNET

Resumen

Se han desarrollado dispositivos basados en nanoestructuras de silicio para su utilización como fotodiodos y células solares. Para su uso tanto en éstos como en otros dispositivos optoelectrónicos, han sido estudiadas las propiedades electrónicas de transporte a través de dichas nanoestructuras, estableciéndose una relación entre los parámetros electrónicos y morfología, estudiada mediante diversas microscopías. Han sido además analizadas las propiedades ópticas de diferentes capas nanomcetricas de silicio. Finalmetne, se han analizado diversos mecanismos de degradación de los dispositivos desarrollados.