Preparación y caracterización por difracción de rayos X de varios óxidos de antimonio y de nuevos óxidos de níquel y lantánidos

  1. Amador Vela-Hidalgo, Juan
Dirigida por:
  1. Isidoro Rasines Linares Director/a

Universidad de defensa: Universidad Autónoma de Madrid

Fecha de defensa: 31 de octubre de 1989

Tribunal:
  1. José Ramón Masaguer Fernández Presidente/a
  2. Moisés Morán Horrillo Secretario/a
  3. María Teresa Casais Álvarez Vocal
  4. Miguel Ángel Alario Franco Vocal
  5. R. Sáez Puche Vocal

Tipo: Tesis

Teseo: 27569 DIALNET

Resumen

Se ha estudiado el sistema vanadio-antimonio-oxigeno en vacio, haciendo reaccionar los elementos y sus oxidos a temperaturas entre 600 y 1000 grados c. Se han obtenido los oxidos mixtos conocidos, determinando sus dominios de estabilidad, sin encontrar ninguna prueba mediante analisis por difraccion de rayos x de la existencia de otros oxidos. Se ha determinado con precision mediante analisis de diraccion de rayos x en muestras policristalinas, los parametros y posiciones de los atomos del oxidos vsbo4. Se han obtenido monocristales no maclados del oxido sb2o4, en sus dos formas cristalograficas, alfa y beta, y se ha determinado sus estructuras. Se ha preparado una serie de espunelas nuevas que se pueden considerar derivadas de la de niquel y cromo, sustituyendo el cromo de los huecos octaedricos por antimonio y niquel, se ha medido la variacion del parametro de red al progresar la sustitucion y se ha determinado las posiciones atomicas. Se han sintetizado ocho nuevos oxidos mixtos de niquel con bario y los elementos lantanidos (y, nd, sm, eu, dy, ho, er, tm) que responden a la formula ln2banio5 determinandose sus parametros reticulares, espaciados e intensidades.