Phi-residual based on minimum phi-divergence estimator in the loglinear model of symmetry

  1. Gupta, AK
  2. Nguyen, TT
  3. Pardo, L
Colección de libros:
SOFT METHODOLOGY AND RANDOM INFORMATION SYSTEMS
  1. LopezDiaz, M (coord.)
  2. Gil, MA (coord.)
  3. Grzegorzewski, P (coord.)
  4. Hryniewicz, O (coord.)
  5. Lawry, J (coord.)

ISSN: 1615-3871

ISBN: 3-540-22264-2

Año de publicación: 2004

Páginas: 299-306

Congreso: 2nd International Conference on Soft Methods in Probability and Statistics (SMPS 2004)

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS