CHARACTERIZATION OF SEMIINSULATING GAAS - CR BY SCANNING ELECTRON ACOUSTIC MICROSCOPY

  1. MENDEZ, B
  2. PIQUERAS, J
Revista:
JOURNAL DE PHYSIQUE IV

ISSN: 1155-4339

Año de publicación: 1991

Volumen: 1

Número: C6

Páginas: 295-296

Congreso: 2ND INTERNATIONAL WORKSHOP ON BEAM INJECTION ASSESSMENT OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1051/JP4:1991644 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS