Wearout-Aware Compiler-Directed Register Assignment for Embedded Systems

  1. Ahmed, Fahad
  2. Sabry, Mohamed M.
  3. Atienza, David
  4. Milor, Linda
Colección de libros:
2012 13TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON QUALITY ELECTRONIC DESIGN (ISQED)

ISSN: 1948-3287

ISBN: 978-1-4673-1036-9,  978-1-4673-1035-2

Año de publicación: 2012

Páginas: 33-40

Congreso: 13th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS