An experimental analysis of SEU sensitiveness on system knowledge-based hardening techniques

  1. Ruano, O.
  2. Reyes, P.
  3. Maestro, J. A.
  4. Sterpone, L.
  5. Reviriego, P.
Colección de libros:
PROCEEDINGS OF THE 2007 IEEE WORKSHOP ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEMS
  1. Girard, P (coord.)
  2. Krasniewski, A (coord.)
  3. Gramatova, E (coord.)
  4. Pawlak, A (coord.)
  5. Garbolino, T (coord.)

ISSN: 2334-3133

ISBN: 978-1-4244-1161-0

Año de publicación: 2007

Páginas: 261-263

Congreso: 10th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS