Step-stress tests for interval-censored data under gamma lifetime distribution

  1. Balakrishnan, N.
  2. Jaenada, M.
  3. Pardo, L.
Aldizkaria:
Quality Engineering

ISSN: 1532-4222,  0898-2112

Argitalpen urtea: 2024

Alea: 36

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 3-20

Mota: Artikulua

DOI: 10.1080/08982112.2023.2199826 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus