A methodology for switching noise estimation at gate level

  1. Castro, J.
  2. Parra, P.
  3. Acosta, A.J.
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

ISBN: 9780819467188

Datum der Publikation: 2007

Ausgabe: 6590

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1117/12.724164 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus