Modelado estadístico varianza de la respuesta de un SiPM, régimen no lineal
- Juan José Muela Cascallana
- Jaime Rosado Vélez
Editorial: Avanza
ISBN: 978-84-09-50462-6
Año de publicación: 2023
Páginas: 295-304
Tipo: Capítulo de Libro
Resumen
Se desarrolla un modelo estadístico para la respuesta de un SiPM incluyendo las contribuciones a la no linealidad de la recuperación del píxel tras su descarga y del ruido correlacionado enforma de “crosstalk”. Se obtiene una expresión satisfactoria para la varianza y la resolución de laseñal, aunque se encuentran limitaciones en el modelo en la región de saturación del dispositivo.