Yield estimation using machine learning from satellite imagery
- de la Fuente, D.
- Rivilla, E.
- Tena, A.
- Vitorino, J.
- Navascués, E.
- Tabasco, A.
ISSN: 2117-4458, 2273-1709
Año de publicación: 2023
44th World Congress of Vine and Wine, OIV 2023
Volumen: 68
Tipo: Aportación congreso