Fringing field optimization of hemispherical deflector analyzers using BEM and FDM

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Revista:
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena

ISSN: 0368-2048

Año de publicación: 2010

Volumen: 177

Número: 1

Páginas: 42-51

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.ELSPEC.2010.01.003 GOOGLE SCHOLAR

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