Aberration corrected Wien filter as a monochromator of high spatial and high energy resolution electron microscopes

  1. Tsuno, K.
  2. Ioanoviciu, D.
  3. Martinez, G.
Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 9

Nummer: SUPPL. 2

Seiten: 944-945

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1017/S1431927603444723 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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