Sistemas de metrología óptica industrial basados en dispositivos CCD
- H. Canabal 1
- E. Bernabeu 1
- J. C. Martínez Antón 1
- L.M. Sánchez Brea 1
- D. Crespo
- J. Alonso 1
-
1
Universidad Complutense de Madrid
info
Verlag: Inst. de Estudios Turolenses
ISBN: 8486982871
Datum der Publikation: 1999
Seiten: 219-224
Kongress: Optoel'99. Teruel, 6-8 de septiembre de 1999
Art: Konferenz-Beitrag