Deflectometría Láser directa con algoritmos de resolución sub-pixel
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Universidad Complutense de Madrid
info
Argitaletxea: Comité organizador de la 6ª Reunión Nacional de Óptica
Argitalpen urtea: 2000
Orrialdeak: 345-346
Biltzarra: 6ª Reunión Nacional de Óptica
Mota: Biltzarraren Kartela
Laburpena
En este trabajo presentamos un método deflectométrico basado en la medida de la posición de una haz láser por medio de una cámara CCD. Con el fin de obtener una medida precisa de la deflexión hemos implementado y comparado tres algoritmos diferentes para medir la posición del haz de luz. El algoritmo elegido, basado en el cálculo de la fase de la FFT, permite obtener una precisión (sigma) de 0.03 de píxel en la estimación de l aposición del haz. El método ha sido automatizado completamente, y se muestra como ejemplo la caracterización automática de una lente oftálmica progresiva. La comparación con los resultados obtenidos en un deflectómetro moiré automático por muestreo de fase muestran una buena correspondencia