Synergistic Effect of He for the Fabrication of Ne and Ar Gas-Charged Silicon Thin Films as Solid Targets for Spectroscopic Studies

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Revista:
Nanomaterials

ISSN: 2079-4991

Año de publicación: 2024

Volumen: 14

Número: 8

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/NANO14080727 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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