Interferometric method for characterizing optical retarders

  1. del Hoyo Muñoz, J.
  2. Andres-Porras, J.
  3. Soria-Garcia, A.
  4. Sanchez-Brea, L.M.
  5. Pastor-Villarrubia, V.
  6. Elshorbagy, M.H.
  7. Alda, J.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X,  0277-786X

ISBN: 9781510673120

Año de publicación: 2024

Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology III

Volumen: 12997

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.3017592 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus