Analysis of the effects of natural radiation on Commercial-Off-The-Shelf (COTS) memories

  1. KORKIAN, GOLNAZ
Dirigida por:
  1. Juan Carlos Fabero Jiménez Director
  2. Juan Antonio Clemente Barreira Director

Universidad de defensa: Universidad Complutense de Madrid

Fecha de defensa: 26 de mayo de 2023

Tribunal:
  1. Juan Antonio Maestro de la Cuerda Presidente/a
  2. Óscar Ruano Ramos Secretario
  3. Almudena Lindoso Muñoz Vocal
  4. Luis Aranda Barjola Vocal
  5. Fernando Muñoz Chavero Vocal

Tipo: Tesis

Resumen

En lo que se ha venido a llamar "Nuevo Espacio", la necesidad de reducir costes, aumentar el rendimiento y planes de entrega más rápidos en proyectos destinados a entornos sometidos a radiación han motivado que los diseñadores de naves espaciales utilicen dispositivos comerciales no diseñados específicamente para espacio (COTS, Commercial Off The Shelf). Esta tesis investiga sobre el comportamiento frente a los efectos de la radiación de FPGA y memorias disponibles en la actualidad que han sido fabricadas con tecnologías emergentes, como RAM estáticas no volátiles (nv-SRAM), RAM ferroeléctricas (FRAM), RAM resistivas (ReRAm), RAM magnéticas (MRAM) y una FPGA Artix-7 de Xilix con tecnología de 28 nm. Se han realizado experimentos de radiación en instalaciones terrestres con protones de energías de 15 y 1 MeV, así como con neutrones térmicos y con energías de 14.8 y 14.2 MeV, lo que ha provocado varios tipos de efectos. Se presentarán y discutirán los resultados experimentales para las nv-SRAM CY14V101QS y CY15B101J y las FRAM CY15B102Q y CY15B104Q, todas ellas fabricadas por Infineon Technologies; para las ReRAM MB85AS4MT y MB85AS8MT, fabricadas por Fujitsu, y para las MRAM MR10Q010CSC y MR25H40CDF de Everspin. Asimismo, se presentarán los datos obtenidos para la FPGA Artix-7 XC7A100T de Xilinx...