CHRISTIAN TOMÁS
TENLLADO VAN DER REIJDEN
Profesor titular de universidad
IEEE Computer Society
Washington, Estados UnidosPublikationen in Zusammenarbeit mit Forschern von IEEE Computer Society (1)
2007
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Parallel morphological endmember extraction using commodity graphics hardware
IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters, Vol. 4, Núm. 3, pp. 441-445