Dispositivo opto-electrónico y métodos para colimar y determinar el grado de colimación de un haz de luz

    Inventores/as:
  1. LUIS MIGUEL SÁNCHEZ BREA
  2. TORCAL MILLA, Francisco José
  1. Universidad Complutense de Madrid
    info

    Universidad Complutense de Madrid

    Madrid, España

ES
Publicación principal:

ES2540921A1 (14-07-2015)

Otras Publicaciones:

ES2540921B2 (08-02-2016)

Solicitudes:

P201500173 (06-03-2015)

Imagen de la patente

Resumen

Dispositivo opto-electrónico y métodos para colimar y determinar el grado de colimación de un haz de luz.

La presente invención se refiere a un dispositivo opto-electrónico para determinar el grado de colimación de un haz de luz que, mediante la incorporación de un elemento de colimación 2, también puede utilizarse para colimar haces. El dispositivo comprende una red de difracción 3, una máscara 5 que incluye una multiplicidad de ventanas 4 cada una de ellas con una red de difracción, estando las redes de difracción de las ventanas 4 desfasadas entre sí, una matriz 7 de fotodetectores 6 cuyo número puede ser igual o mayor al número de ventanas 4 de la máscara 5 o bien pueden estar ubicados en una matriz con distribución bidimensional (CMOS o CCD) y uno o más elementos de procesamiento de datos 8. La invención también incluye métodos para determinar el grado de colimación de un haz de luz o para colimar un haz.