DISPOSITIVO PARA LA DETECCIÓN DE DEFECTOS SUPERFICIALES SOBRE CILINDROS
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Inventores/as:
- EUSEBIO BERNABÉU MARTÍNEZ
- JUAN CARLOS MARTÍNEZ ANTÓN
- LUIS MIGUEL SÁNCHEZ BREA
- SIEGMANN, PHILIP
- KRAEMER, CHRISTOPH
- STUDER, URS, PETER
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Universidad Complutense de Madrid
info
Universidad Complutense de Madrid
Madrid, España
WO03044505A1 (30-05-2003)
WO03044505B1 (21-05-2004)
PCT/ES2002/000553 (22-11-2002)
![Imagen de la patente](https://consultas2.oepm.es/imas//Resumen/PCT/ES2/002/000/PCTES2002000553.jpg)
Resumen
Dispositivo para la detección de defectos superficiales sobre cilindros. El objetivo del invento es la realización de un dispositivo optoelectrónico sin contacto para la detección, distinción y ubicación espacial de estructuras o defectos superficiales. El sistema desarrollado se compone de tres unidades: a) unidad de iluminación, b) unidad de captación y c) unidad de procesado de laseñal. Es aplicable a cilindros, cables o, en general, a hilos m etálicos. En este caso particular denominamos estructura superficial a toda variación de la topografía respecto a la forma cilíndrica.