DISPOSITIVO PARA LA DETECCIÓN DE DEFECTOS SUPERFICIALES SOBRE CILINDROS

    Inventores/as:
  1. EUSEBIO BERNABÉU MARTÍNEZ
  2. JUAN CARLOS MARTÍNEZ ANTÓN
  3. LUIS MIGUEL SÁNCHEZ BREA
  4. SIEGMANN, PHILIP
  5. KRAEMER, CHRISTOPH
  6. STUDER, URS, PETER
  1. Universidad Complutense de Madrid
    info

    Universidad Complutense de Madrid

    Madrid, España

Mundial
Otras Publicaciones:

WO03044505A1 (30-05-2003)

WO03044505B1 (21-05-2004)

Solicitudes:

PCT/ES2002/000553 (22-11-2002)

Imagen de la patente

Resumen

Dispositivo para la detección de defectos superficiales sobre cilindros. El objetivo del invento es la realización de un dispositivo optoelectrónico sin contacto para la detección, distinción y ubicación espacial de estructuras o defectos superficiales. El sistema desarrollado se compone de tres unidades: a) unidad de iluminación, b) unidad de captación y c) unidad de procesado de laseñal. Es aplicable a cilindros, cables o, en general, a hilos m etálicos. En este caso particular denominamos estructura superficial a toda variación de la topografía respecto a la forma cilíndrica.