Óptica y Optometría
Facultat
National Institute of Standards and Technology
Gaithersburg, Estados UnidosPublicacions en col·laboració amb investigadors/es de National Institute of Standards and Technology (1)
2007
-
First THz and IR characterization of nanometer-scaled antenna-coupled InGaAs/InP Schottky-diode detectors for room temperature infrared imaging
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering