Procesos fundamentales asociados al Ried en Alfa-Al203

  1. Moroño Guadalajara, Alejandro
Dirigida por:
  1. Eric Richard Hodgson Hampson Director/a

Universidad de defensa: Universidad Complutense de Madrid

Año de defensa: 1996

Tribunal:
  1. Francisco Javier Piqueras de Noriega Presidente
  2. José Llopis Pla Secretario
  3. Ramiro Pareja Pareja Vocal
  4. Fernando Agulló López Vocal
  5. Carmen Nieves Afonso Rodríguez Vocal

Tipo: Tesis

Resumen

En este trabajo se han estudiado los procesos fundamentales asociados a lo que se ha dado en llamar degradación eléctrica inducida por radiación o Ried (radiation induced electrical degradation), fenómeno descubierto por el Dr. Hodgson en el año 1989. Para ello se han irradiado muestras de zafiro de alta pureza con electrones de 1.8 mev en un acelerador Van de Graaff y se han realizado medidas de absorción óptica y radioluminiscencia en la línea del acelerador. A través de dichas medidas se ha observado que al irradiar zafiro con un campo eléctrico aplicado de 200 kv/m y a una temperatura por encima de 150c se producen centros f+ en lugar de centros f. También se ha observado experimentalmente que estos centros f+ se agregan durante irradiación dando lugar a centros f2 y coloides de aluminio, siendo esta la primera vez que dichos coloides han sido observados. Finalmente se ha desarrollado un modelo capaz de explicar el efecto del campo eléctrico en las vacantes de oxígeno.