The effect of white-noise mask level on sinewave contrast detection thresholds and the critical-band-masking model

  1. Serrano Pedraza, Ignacio
  2. Sierra Vázquez, Vicente
Zeitschrift:
The Spanish Journal of Psychology

ISSN: 1138-7416

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 9

Nummer: 2

Seiten: 249-262

Art: Artikel

DOI: 10.1017/S1138741600006156 DIALNET GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor

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Fuente de los datos: Dialnet