The effect of white-noise mask level on sinewave contrast detection thresholds and the critical-band-masking model

  1. Serrano Pedraza, Ignacio
  2. Sierra Vázquez, Vicente
Revista:
The Spanish Journal of Psychology

ISSN: 1138-7416

Ano de publicación: 2006

Volume: 9

Número: 2

Páxinas: 249-262

Tipo: Artigo

DOI: 10.1017/S1138741600006156 DIALNET GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor

Outras publicacións en: The Spanish Journal of Psychology

Fonte de datos: Dialnet