Tomografía del módulo y la fase de un haz focalizado de infra-rojo para medidas de caracterización nanofotónica
- Silva López, Manuel
- Rico García, José María
- Alda, Javier
ISSN: 2171-8814
Año de publicación: 2012
Título del ejemplar: ESPECIAL OPTOEL´11
Volumen: 45
Número: 2
Páginas: 233-237
Tipo: Artículo
Otras publicaciones en: Óptica pura y aplicada
Resumen
En esta contribucion se presentan los mapas de intensidad y fase de un haz laser en las cercanias del plano focal de una lente. Los mapas de irradiancia se obtienen a traves de un metodo tomografico basado en la tecnica knife-edge, y los mapas de fase se extraen usando un algoritmo basado en la ecuacion de transporte de irradiancia. Conocer la distribucion de la amplitud y la fase del haz incidente es importante para la caracterizacion de dispositivos nanofotonicos (como detectores basados en antenas), sensibles a estos parametros. Este metodo evita el uso de camaras en condiciones de baja resolucion.