Effect of thermal annealing on Te precipitates in CdTe wafers studied by Raman scattering and cathodoluminescence
- Sochinskii, N.V.
- Serrano, M.D.
- Diéguez, E.
- Agulló-Rueda, F.
- Pal, U.
- Piqueras, J.
- Fernández, P.
ISSN: 0021-8979
Datum der Publikation: 1995
Ausgabe: 77
Nummer: 6
Seiten: 2806-2808
Art: Artikel